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輝光放電質(zhì)譜測(cè)試

輝光放電質(zhì)譜測(cè)試去哪里做?輝光放電質(zhì)譜測(cè)試報(bào)告去哪里辦理?百檢材料檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供輝光放電質(zhì)譜測(cè)試服務(wù),為CMA資質(zhì)認(rèn)證機(jī)構(gòu),高新技術(shù)企業(yè),第三方材料實(shí)驗(yàn)室,針對(duì)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制中遇到的問(wèn)題,提供成分

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  測(cè)試周期:7-15個(gè)工作日


  測(cè)試費(fèi)用:工程師根據(jù)客戶(hù)測(cè)試需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度制定實(shí)驗(yàn)方案進(jìn)行報(bào)價(jià)。


  輝光放電質(zhì)譜測(cè)試范圍


  電子級(jí)鋁,電子級(jí)鈦,電子級(jí)鋁銅,高純度銅,太陽(yáng)能硅,多晶硅,高純銀,高純金,高純稀土,高純銻,高純鉛,高純鋁,高純鈦,高純錸,高純鈮,高純鎢,高純鉍,高純鈷,高純鎳等。


  輝光放電質(zhì)譜測(cè)試項(xiàng)目


  高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜痕量金屬雜質(zhì)測(cè)試,GD-MS測(cè)試等。(更多樣品測(cè)試,您可咨詢(xún)材料實(shí)驗(yàn)室工程師,為您詳細(xì)解答。)


  百檢測(cè)試報(bào)告有哪些作用?可以幫您解決哪些問(wèn)題?


  1、銷(xiāo)售使用。(銷(xiāo)售自己的產(chǎn)品,出具第三方測(cè)試報(bào)告讓客戶(hù)更加信賴(lài)自己的產(chǎn)品質(zhì)量)


  2、研發(fā)使用。(研發(fā)過(guò)程中,遇到一些比較棘手的問(wèn)題,通過(guò)測(cè)試報(bào)告數(shù)據(jù)來(lái)解決問(wèn)題,從而縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本)


  3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。(通過(guò)對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù),發(fā)現(xiàn)自身產(chǎn)品問(wèn)題所在,提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低生產(chǎn)成本)


  4、科研論文數(shù)據(jù)使用。


  5、競(jìng)標(biāo),投標(biāo)使用(百檢測(cè)試周期比較短,測(cè)試費(fèi)用低,認(rèn)可度比較高,特別適合投標(biāo)使用)


  輝光放電質(zhì)譜測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)


  GB/T23275-2009釕粉化學(xué)分析方法鉛、鐵、鎳、鋁、銅、銀、金、鉑、銥、鈀、銠、硅量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  GB/T32651-2016采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)硅中痕量元素的測(cè)試方法


  GB/T33236-2016多晶硅痕量元素化學(xué)分析輝光放電質(zhì)譜法


  GB/T36590-2018高純銀化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  XB/T628-2020高純稀土金屬化學(xué)分析方法痕量元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T35-2012高純銻化學(xué)分析方法鎂、鋅、鎳、銅、銀、鎘、鐵、硫、砷、金、錳、鉛、鉍、硅、硒含量的測(cè)定高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T229.4-2013高純鉛化學(xué)分析方法第4部分:痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T871-2013高純鋁化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T891-2013高純鈦化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T895-2013高純錸化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T897-2013高純鈮化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T899-2013高純鉭化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T901-2013高純鎢化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T917-2013高純鎘化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T922-2013高純銅化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T923.2-2013高純鉍化學(xué)分析方法第2部分:痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T981.1-2014高純銦化學(xué)分析方法鎂、鋁、硅、硫、鐵、鎳、銅、鋅、砷、銀、鎘、錫、鉈、鉛的測(cè)定高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T1011-2014高純鈷化學(xué)分析方法雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T1012-2014高純鎳化學(xué)分析方法雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T1288.4-2018高純鋅化學(xué)分析方法第4部分:痕量元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  YS/T1347-2020高純鉿化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  T/SDAS4-2016高純金化學(xué)分析方法雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法


  ASTMF1593-2008用高質(zhì)量分辯率輝光放電質(zhì)譜儀測(cè)定電子級(jí)鋁中痕量金屬雜質(zhì)的試驗(yàn)方法


  ASTMF1710-2008用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜儀對(duì)電子級(jí)鈦中痕量金屬雜質(zhì)的試驗(yàn)方法


  ASTMF1845-2008用大質(zhì)量降低輝光放電質(zhì)譜儀對(duì)電子級(jí)鋁-銅、鋁-硅和鋁-銅-硅合金中痕量金屬雜質(zhì)的試驗(yàn)方法


  ASTMF2405-2004(2011)用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜儀對(duì)高純度銅中痕量金屬雜質(zhì)的試驗(yàn)方法


  ISO/TR140-1164-2009表面化學(xué)分析輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS)使用介紹


  ISO/TS15338-2009表面化學(xué)分析輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS)使用介紹


  SEMIPV1-0211-2011用于測(cè)量的high-mass分辨輝光放電質(zhì)譜硅太陽(yáng)能電池的硅原料微量元素的半pv1-0211試驗(yàn)方法


  百檢測(cè)試有什么優(yōu)勢(shì)?為什么要選擇百檢?


  1、百檢是集體所有制測(cè)試機(jī)構(gòu)。


  2、免費(fèi)初檢,初檢期間不收取測(cè)試費(fèi)用。


  3、全國(guó)多家實(shí)驗(yàn)室分支,支持上門(mén)取樣/寄樣測(cè)試。


  4、測(cè)試周期短,測(cè)試費(fèi)用,實(shí)驗(yàn)方案齊全。


  5、資質(zhì)齊全,實(shí)驗(yàn)室儀器齊全,科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大。


  6、36種語(yǔ)言支持編寫(xiě)MSDS服務(wù)


  百檢寄樣測(cè)試流程


  1、寄樣


  2、免費(fèi)初檢


  3、報(bào)價(jià)


  4、雙方確定,簽訂保密協(xié)議,開(kāi)始實(shí)驗(yàn)


  5、7-15個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn)


  6、出具測(cè)試報(bào)告,后期服務(wù)。


  以上是關(guān)于輝光放電質(zhì)譜測(cè)試的相關(guān)介紹,如有其他測(cè)試需求可以咨詢(xún)實(shí)驗(yàn)室工程師幫您解答。