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新聞動(dòng)態(tài)
掃描電子顯微鏡(SEM)檢測
日期:2022-04-19 10:05:26作者:百檢 人氣:0

  掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的細(xì)胞生物學(xué)研究工具,主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用*狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來的,即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。


  一.原理:如果入射電子撞擊樣品表面原子的外層電子,把它激發(fā)出來,就形成低能量的二次電子,在電廠的作用下它可呈曲線運(yùn)動(dòng),翻越障礙進(jìn)入檢測器,使表面凹凸的各個(gè)部分都能清晰成像。二次電子的強(qiáng)度主要與樣品表面形貌有關(guān)。二次電子和背景散射電子共同用于掃描電鏡的成像。當(dāng)探針很細(xì),分辨率高時(shí),基本收集的是二次電子二背景電子很少,稱為二次電子成像(SEI)。


  二.結(jié)構(gòu):由3個(gè)部分組成:真空系統(tǒng),電子束系統(tǒng),成像系統(tǒng)。


  a真空系統(tǒng)


  真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。


  真空柱是一個(gè)密封的柱形容器。


  真空泵用來在真空柱內(nèi)產(chǎn)生真空。


  電子束系統(tǒng)中的燈絲在普通大氣中會(huì)迅速氧化而失效,所以在使用SEM時(shí)需要用真空,或以純氮?dú)饣蚨栊詺怏w充滿整個(gè)真空柱。為了增大電子的平均自由程,從而使得用于成像的電子更多。


  b電子束系統(tǒng)電子束系統(tǒng)由電子槍和電磁透鏡兩部分組成,主要用于產(chǎn)生一束能量分布*窄的,電子能量確定的電子束用以掃描成像。


  c成像系統(tǒng)成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱種。真空柱底端用于放置樣品。


  三.參數(shù):


  a分辨率


  SEM的分辨率主要受到電子束直徑的限制,這里電子束直徑指的是聚焦后掃描在樣品上的照射點(diǎn)的尺寸。對同樣品距的二個(gè)顆粒,電子束直徑越小,越得到好的分辨效果,電子束直徑越小,信噪比越小。


  b放大倍數(shù)


  在顯像管中電子束在熒光屏上*大掃描距離和在鏡筒中電子束針在試樣上*大掃描距離的比值


  c焦深


  SEM的焦深是較好光學(xué)顯微鏡的300-600倍。焦深大意味著能使不平整性大的表面上下都能聚焦。


  d工作距離


  從物鏡到樣品*高點(diǎn)的垂直距離。


  如果增加工作距離,可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。


  如果減少工作距離,則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。


  通常使用的工作距離在5mm-10mm之間。


  e作用體積電子束不僅僅與樣品表面原子發(fā)生作用,它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用,所以存在一個(gè)作用“體積”。作用體積的厚度因信號(hào)的不同而不同。


  四.樣品制備:


  a金屬涂層法


  應(yīng)用對象是導(dǎo)電性較差的樣品,如高聚物材料,在進(jìn)行掃描電子顯微鏡觀察之前必使樣品表面蒸發(fā)一層導(dǎo)電體,目的在于消除荷電現(xiàn)象,提高樣品表面二次電子的激發(fā)量,并減小樣品的輻射損傷。


  b離子刻蝕法


  應(yīng)用對象是包含結(jié)晶相和非晶相兩個(gè)組成部分的樣品。它是利用離子轟擊樣品表面時(shí),由于兩相被離子作用的程度不同,而暴露出晶區(qū)的細(xì)微結(jié)構(gòu)。


  c化學(xué)刻蝕法


  應(yīng)用對象同于離子刻蝕法,包括溶劑和酸刻蝕兩種方法。


  酸刻蝕是利用某些氧化性較強(qiáng)的溶液,如發(fā)煙硝酸,高錳酸鉀等處理樣品表面,使其中一個(gè)相氧化斷鏈而溶解,而暴露出晶相的結(jié)構(gòu)。


  溶劑刻蝕是用某些溶劑選擇溶解高聚物材料的一個(gè)相,而暴露出另一相的結(jié)構(gòu)。


  五.SEM的優(yōu)點(diǎn):


  焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究;


  放大倍數(shù)范圍廣,從20倍到20萬倍,幾乎覆蓋了光學(xué)顯微鏡和TEM的范圍;


  分辨率高,表面掃描二次電子成像的分辨率已經(jīng)達(dá)到100埃;


  制樣簡單,樣品的電子損傷小。


  可同時(shí)進(jìn)行顯微形貌觀察和微區(qū)成分分析。


  所以SEM在高分子材料學(xué),生物學(xué),醫(yī)學(xué),冶金學(xué)等等學(xué)科領(lǐng)域中發(fā)揮了重要的作用。