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  •        PSE認(rèn)證是日本強(qiáng)制性安全認(rèn)證,用以證明電機(jī)產(chǎn)品已通過(guò)日本電氣和原料安全法(DENANLaw)或國(guó)際IEC標(biāo)準(zhǔn)的安全標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。無(wú)論是在日本亞馬遜銷售還是在日本當(dāng)...
  •        2014年5月22日,歐盟公布了新版的無(wú)線設(shè)備指令RED2014/53/EU,該指令是基于歐盟新的CE框架決議768/2008/EC編寫的,RED2014/53...
  •        半導(dǎo)體檢測(cè)的測(cè)試系統(tǒng)稱為ATE,由電子電路和機(jī)械硬件組成,是由同一個(gè)主控制器指揮下的電源、計(jì)量?jī)x器、信號(hào)發(fā)生器、模式的合體,用于模仿被測(cè)器件將會(huì)在應(yīng)用中體驗(yàn)到的...
  •        電子產(chǎn)品老化檢測(cè)分為元器件老化和整機(jī)老化。電子新產(chǎn)品要考核新的元器件或整機(jī)的性能,老化指標(biāo)較高。老化使產(chǎn)品的缺陷在出廠前暴露,如焊接點(diǎn)的牢靠性,產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、材料...
  •        半導(dǎo)體檢測(cè)工藝的目的不只是搜集數(shù)據(jù),更重要的是要把不斷產(chǎn)生的大量檢測(cè)數(shù)據(jù)及時(shí)整理分析,不斷發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題,向工藝控制反饋,使之不致偏離正常的控制條件。...
  •        半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中,從半導(dǎo)體單晶片到制成成品,須經(jīng)歷數(shù)十甚至上百道工序。為了保障產(chǎn)品性能合格、穩(wěn)定可靠,并有高的成品率,根據(jù)各種產(chǎn)品的生產(chǎn)情況,對(duì)所有工藝步驟都要...
  •        ?為了更好地評(píng)估分析電子設(shè)備可靠性而開展的測(cè)試稱作可靠性檢測(cè)。對(duì)于不一樣的樣品,為了更好地達(dá)到不同的目的,需要選擇不一樣的檢測(cè)方法。也稱樣品的可靠性評(píng)估,樣品在...
  •        半導(dǎo)體檢測(cè)主要是對(duì)工藝過(guò)程中半導(dǎo)體體內(nèi)、表面和附加其上的介質(zhì)膜、金屬膜、多晶硅等結(jié)構(gòu)的特性進(jìn)行物理、化學(xué)和電學(xué)等性質(zhì)的測(cè)定。按照所測(cè)定的特性,這一類檢測(cè)可分為四...
  •        在常規(guī)半導(dǎo)體檢測(cè)中,有時(shí)還采用破壞性的方法(如測(cè)PN結(jié)深度、鍵合強(qiáng)度等),較多的則屬非破壞性測(cè)試。但是即使采用非破壞性的檢測(cè)方法,一般也不在半導(dǎo)體器件和集成電路...
  •        為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性檢測(cè)。對(duì)于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的試驗(yàn)方法。也稱產(chǎn)品的可靠性評(píng)估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)...