在找光電耦合器檢測(cè)機(jī)構(gòu)？百檢網(wǎng)為您提供光電耦合器檢測(cè)服務(wù)，專業(yè)工程師對(duì)接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案，包括光電耦合器檢測(cè)周期、報(bào)價(jià)、樣品等，確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測(cè)，光電耦合器檢測(cè)常規(guī)周期3-15個(gè)工作日，歡迎咨詢。

檢測(cè)樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報(bào)告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報(bào)告周期：常規(guī)3-15個(gè)工作日，特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。

檢測(cè)費(fèi)用：根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi)，詳情請(qǐng)咨詢百檢網(wǎng)。

光電耦合器檢測(cè)項(xiàng)目：

電流傳輸比hF(ctr),集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat),反向擊穿電壓,反向電流,正向電壓,電流傳輸比,輸出截止電流,集電極-發(fā)射極擊穿電壓,正向壓降,電流傳輸比(hF(ctr)),集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-發(fā)射極飽和電壓,暗電流（ICEO）,正向壓降(VF),電流傳輸比（hF(ctr)）,集電極發(fā)射極飽和電壓（VCEsat）,反向電流(二極管),正向電壓(輸入二極管),反向擊穿電壓（二極管）,反向電流（二極管）,正向電壓（輸入二極管）,集電極-發(fā)射極飽和電壓降,反向直流電流,發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射極-基極電流,基極-發(fā)射極飽和電壓,正向直流電壓,集電極-發(fā)射極電壓,集電極-發(fā)射極電流,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極電流,集電極-發(fā)射極截止電流,集電極-發(fā)射極飽和電壓Vce(sat),上升傳輸延遲時(shí)間,下降傳輸延遲時(shí)間,二極管正向電流,傳遞系數(shù),低電平電源電流,正向電壓（二極管）,維持電流,脈沖上升時(shí)間,脈沖下降時(shí)間,輸出低電平電壓,輸出高電平電壓,通態(tài)直流電壓,隔離電壓,零位電壓,非線性度,高電平電源電流,正向電流,正向電流（二極管）,結(jié)電容,反向電流IR,正向電壓VF,電流傳輸比CTR,輸出截止電流ICEO,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,電流傳輸比hF(ctr),集電極-發(fā)射極擊穿 電壓V（BR）CEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat),上升時(shí)間/開通時(shí)間/下降時(shí)間/關(guān)斷時(shí)間,上升時(shí)間/開通時(shí)間,下降時(shí)間/關(guān)斷時(shí)間,基極開路時(shí)的最大集電極－發(fā)射極電壓,最大反向輸入直流電壓,溫度循環(huán),溫度貯存,輸入二級(jí)管反向電流,輸入二級(jí)管正向電壓,集電極－發(fā)射極暗電流或集電極－基極暗電流（適用時(shí)）,集電極－發(fā)射極飽和電壓或集電極－基極電壓（適用時(shí)）,反向擊穿電壓VBR,反向漏電流IR,正向電流IF,電流傳輸比CTR（Ic）,集電極-發(fā)射極截止電流ICEO,交變濕熱試驗(yàn)方法,光電耦合器的局部放電,光電耦合器的開關(guān)時(shí)間ton、toff,光電耦合器的集電極-發(fā)射極的飽和電壓VCE(sat),沖擊,可燃性試驗(yàn),外部爬電距離,外部電氣間隙,存儲(chǔ)溫度,密封,峰值關(guān)斷電流IDRM,振動(dòng),最終測(cè)試,最終試驗(yàn),標(biāo)記，標(biāo)簽，以及規(guī)格書的信息,檢驗(yàn),溫度變化,濕熱,相比電痕化指數(shù),絕緣材料的限制溫度,絕緣材料試驗(yàn),試驗(yàn)和檢驗(yàn),輸入-輸出電容,輸入-輸出隔離電阻,陶瓷材料,隔離測(cè)試,隔離試驗(yàn),集電極-發(fā)射極飽和電壓（直流法）,集電極-發(fā)射極飽和電壓（脈沖法）,預(yù)處理,高溫,反向電流IR

百檢檢測(cè)流程：

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測(cè);

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

光電耦合器檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第5-3部分： 光電子器件測(cè)試方法 5.1

2、GJB 4508-2002 光電器件環(huán)境應(yīng)力篩選通用要求 5.2.4

3、GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件 第5部分 光電子器件 第Ⅳ章 第3節(jié)

4、 SJ/T 2215-2015 半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法

5、GB/T 15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件 Ⅳ3.1

6、IEC 60747-5-5:2007+A1:2013 半導(dǎo)體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器 7.4.3.2.1

7、SJ/T 2215-2015 半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法

8、SJ/2215-2015 《半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法》 5.7

9、GB/T 15651.2－2003 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第5-2部分：光電子器件基本額定值和特性 7.6.10

10、GB/T6571-1995 半導(dǎo)體器件分立器件第3部分 信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二極管 第Ⅳ章第1節(jié)1條 第Ⅳ章第1節(jié)2條

11、GB/T15651.3-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測(cè)試方法

12、GB/T4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 第Ⅳ章3條

13、SJ/T2215-2015 半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法 5.3

14、GB/T 15651.2-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分：光電子器件基本額定值和特性

15、GB/T 15651.3－2003 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測(cè)試方法 5.7

16、GB/T4023-2015 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第2部分：整流二極管　

一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?

產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機(jī)構(gòu)檢測(cè)服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域檢測(cè)服務(wù)，歡迎咨詢。