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塑封半導(dǎo)體集成電路檢測(cè)

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檢測(cè)樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報(bào)告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL

報(bào)告周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。

檢測(cè)費(fèi)用:根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi),詳情請(qǐng)咨詢(xún)百檢網(wǎng)。

塑封半導(dǎo)體集成電路檢測(cè)項(xiàng)目:

內(nèi)部目檢,玻璃鈍化層完整性檢查,X射線(xiàn)檢查,外部目檢,掃描電子顯微鏡(SEM)檢查,鍵合強(qiáng)度,聲學(xué)掃描顯微鏡檢查,掃描電子顯微鏡(SEM)檢查,掃描聲學(xué)顯微鏡檢查,掃描電子顯微鏡檢查

百檢檢測(cè)流程:

1、電話(huà)溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測(cè);

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

塑封半導(dǎo)體集成電路檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目1103 2.5條

2、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005

3、GJB4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 1103/2.3

4、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006

5、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2021

一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?

產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求,能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機(jī)構(gòu)檢測(cè)服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車(chē)、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域檢測(cè)服務(wù),歡迎咨詢(xún)。