在找集成電路-MCU芯片檢測機(jī)構(gòu)？百檢網(wǎng)為您提供集成電路-MCU芯片檢測服務(wù)，專業(yè)工程師對接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案，包括集成電路-MCU芯片檢測周期、報(bào)價(jià)、樣品等，確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測，集成電路-MCU芯片檢測常規(guī)周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報(bào)告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報(bào)告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品、檢測項(xiàng)目除外。

檢測費(fèi)用：根據(jù)檢測項(xiàng)目收費(fèi)，詳情請咨詢百檢網(wǎng)。

集成電路-MCU芯片檢測項(xiàng)目：

低溫工作壽命檢測,低溫讀寫,功能檢測,常溫讀寫＋保存數(shù)據(jù)退化及只讀檢測,無偏壓高加速溫濕度壽命檢測(UHAST),早夭期壽命檢測,溫度循環(huán)檢測（TC）,濕敏等級檢測,電氣性能檢測,芯片的 DPI 傳導(dǎo)抗擾度,芯片的 EFT 傳導(dǎo)抗擾度,芯片的 PESD 傳導(dǎo)抗擾度,芯片輻射電場抗擾度,閂鎖檢測（Latch-up）,靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測,靜電放電-人體模型檢測（ESD-HBM）,靜電放電-帶電器件模型檢測（ESD-CDM）,預(yù)處理檢測,高加速溫濕度壽命檢測（HAST）,高溫存儲檢測（HTSL）,高溫工作壽命檢測,高溫讀寫＋保存數(shù)據(jù)退化檢測,機(jī)械性能檢測

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

集成電路-MCU芯片檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1、T/CIE073-2031 預(yù)處理檢測

2、T/CIE073-2030 濕敏等級檢測

3、T/CIE073-2033 高加速溫濕度壽命檢測（HAST）

4、T/CIE073-2032 無偏壓高加速溫濕度壽命檢測(UHAST)

5、T/CIE073-2035 溫度循環(huán)檢測（TC）

6、T/CIE073-2034 高溫存儲檢測（HTSL）

7、T/CIE073-2037 靜電放電-帶電器件模型檢測（ESD-CDM）

8、T/CIE073-2036 靜電放電-人體模型檢測（ESD-HBM）

9、T/CIE073-2039 芯片輻射電場抗擾度

10、T/CIE073-2038 閂鎖檢測（Latch-up）

11、T/CIE 073—2020 工業(yè)級高可靠集成電路評價(jià) 第 8 部分： MCU 芯片 T/CIE 073—2020

12、T/CIE073—2020 濕敏等級檢測

13、T/CIE073-2040 芯片的 DPI 傳導(dǎo)抗擾度

14、T/CIE073-2042 芯片的 PESD 傳導(dǎo)抗擾度

15、T/CIE073-2020 電氣性能檢測

16、T/CIE073-2041 芯片的 EFT 傳導(dǎo)抗擾度

17、T/CIE073-2021 功能檢測

18、T/CIE073-2024 高溫工作壽命檢測

19、T/CIE073-2023 早夭期壽命檢測

20、T/CIE073-2026 靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測

一份檢測報(bào)告有什么用?

產(chǎn)品檢測報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺上架、商超入駐、學(xué)?？蒲刑峁┛陀^的參考。

百檢第三方機(jī)構(gòu)檢測服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域檢測服務(wù)，歡迎咨詢。