在找半導(dǎo)體集成電路(模擬開(kāi)關(guān))檢測(cè)機(jī)構(gòu)？百檢網(wǎng)為您提供半導(dǎo)體集成電路(模擬開(kāi)關(guān))檢測(cè)服務(wù)，專(zhuān)業(yè)工程師對(duì)接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案，包括半導(dǎo)體集成電路(模擬開(kāi)關(guān))檢測(cè)周期、報(bào)價(jià)、樣品等，確認(rèn)無(wú)誤后安排寄樣檢測(cè)，半導(dǎo)體集成電路(模擬開(kāi)關(guān))檢測(cè)常規(guī)周期3-15個(gè)工作日，歡迎咨詢(xún)。

檢測(cè)樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報(bào)告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報(bào)告周期：常規(guī)3-15個(gè)工作日，特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。

檢測(cè)費(fèi)用：根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi)，詳情請(qǐng)咨詢(xún)百檢網(wǎng)。

半導(dǎo)體集成電路(模擬開(kāi)關(guān))檢測(cè)項(xiàng)目：

導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on),導(dǎo)通電阻Ron,導(dǎo)通電阻路差ΔRon,截止態(tài)源級(jí)漏電流IS（off）,截止態(tài)漏極漏電流ID（off）,輸入低電平電流IIL,輸入高電平電流IIH,靜態(tài)工作電源電流IDD,關(guān)斷時(shí)間,導(dǎo)通態(tài)漏電流,導(dǎo)通電阻,導(dǎo)通電阻溫度漂移率,導(dǎo)通電阻路差,導(dǎo)通電阻路差率,開(kāi)啟時(shí)間,截止態(tài)源極漏電流,截止態(tài)漏極漏電流,電源電流,通道轉(zhuǎn)換時(shí)間,開(kāi)啟時(shí)間/關(guān)斷時(shí)間,截止態(tài)漏極漏電流/截止態(tài)源極漏電流,功能測(cè)試,模擬電壓工作范圍,雙向開(kāi)關(guān)截止電流,導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS（on）,導(dǎo)通電阻路差△Ron,截止態(tài)漏電流ID（off）,導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on),導(dǎo)通電阻Ron,導(dǎo)通電阻路差△Ron,截止態(tài)源極漏電流IS(off),截止態(tài)漏極漏電流ID(off),輸入低電平電流IIL,輸入高電平電流IIH,靜態(tài)工作電源電流,導(dǎo)通態(tài)漏電流 IDS(on),導(dǎo)通電阻 RON,導(dǎo)通電阻路差 △RON,截止態(tài)源極漏電流IS(off),截止態(tài)漏極漏電流ID(off),輸出低電平電壓 VOL,輸出高電平電壓 VOH,靜態(tài)條件下的電源電流 IDD,導(dǎo)通電阻RON,截止態(tài)源極漏電流IS（OFF）,截止態(tài)漏極漏電流ID（OFF）,邏輯端輸入電流,導(dǎo)通態(tài)漏電流 IDS(on),導(dǎo)通電阻 RON,截止態(tài)源極漏電流 IS(off),截止態(tài)漏極漏電流 ID(off),靜態(tài)條件下的電源電流,導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on),導(dǎo)通電阻Ron,導(dǎo)通電阻路差△Ron,截止態(tài)源極漏電流IS(off),截止態(tài)漏極漏電流ID(off),截止態(tài)源極漏電,導(dǎo)通態(tài)漏極漏電流,電源電流IDD,輸出高電平電壓VOH,輸出低電平電壓VOL,開(kāi)啟時(shí)間ton,關(guān)斷時(shí)間toff

百檢檢測(cè)流程：

1、電話(huà)溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測(cè);

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

半導(dǎo)體集成電路(模擬開(kāi)關(guān))檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 14028-2018 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 5.8

3、GB/T 17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 第IV篇》 GB/T 17574-1998

4、GB/T 14028-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理 條款2.6

5、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 第III篇第6節(jié) 5.1.1

6、GB/T14028-2018 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 5.6

7、GB/T14028-2018/ 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理 5.4

8、GB/T 14028-2018 《半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法》 GB/T 14028-2018

9、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第Ⅳ篇 第2節(jié) 2

10、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

11、SJ/T 10741-2000（CMOS） 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 條款5.15

12、GB/T 14028-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14028-1992

13、SJ/T10741-2000 5.9 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理

14、SJ/T10741-2000 5.10 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理

15、SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

16、GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 第Ⅳ篇 第2節(jié) 1

一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?

產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)?？蒲刑峁┛陀^的參考。

百檢第三方機(jī)構(gòu)檢測(cè)服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車(chē)、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域檢測(cè)服務(wù)，歡迎咨詢(xún)。