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半導體二極管檢測

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檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等

報告資質:CNAS/CMA/CAL

報告周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用:根據(jù)檢測項目收費,詳情請咨詢百檢網(wǎng)。

半導體二極管檢測項目:

反向漏電流,外部目檢,正向電壓,二極管特性曲線,正向壓降,密封,恒定加速度,溫度循環(huán),粒子碰撞噪聲檢測試驗,老煉試驗,高溫壽命(非工作),老煉(二極管、整流管、穩(wěn)壓管),低溫測試,反向恢復時間,微分電阻Rz,浪涌電流,電耐久性試驗,瞬態(tài)熱阻,穩(wěn)態(tài)熱阻Rja,Rjc,箝位電壓,高溫反偏試驗,高溫測試,高溫壽命

百檢檢測流程:

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

半導體二極管檢測標準:

1、GB/T 6571-1995 半導體器件 分立器件 第3部分:信號(包括開關)和調整二極管 GB/T 6571-1995

2、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005

3、GB/T 4023-2015 《半導體器件分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管》 7.1.4

4、JESD51-14-2010 半導體器件結到外殼熱阻瞬態(tài)雙界面測試方法

5、GJB128A-1997/ 半導體分立器件試驗方法 4023

6、GB/T 4023-2015 《半導體器件分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管》 GB/T 4023-2015

7、GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》 GJB128A-1997

8、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997

9、GB/T 6571-1995 半導體器件 分立器件 第3部分:信號(包括開關)和調整二極管 第Ⅳ章第1節(jié)4.2.3,4.2.4

10、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 112

11、MIL-STD- 750F 半導體器件的試驗方法 標準試驗方法 MIL-STD-750F

12、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 1014.2

13、GB/T 2423.23-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Q:密封

14、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

15、GJB128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》 方法4016

16、GB/T4023-2015 半導體器件分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管 7.1.2,7.1.4

17、MIL-STD-750F 半導體器件的試驗方法 標準試驗方法 3101.4

一份檢測報告有什么用?

產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求,能夠為企業(yè)產品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構檢測服務包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質、化妝品、紡織品、日化品、農產品等多項領域檢測服務,歡迎咨詢。