檢測周期：常規(guī)3-5個工作日，可加急（特殊樣品除外）

報告樣式：電子版、紙質(zhì)，中、英文均可。

報告資質(zhì)：CMA、CNAS

百檢網(wǎng)第三方檢測機構(gòu)主要從事紡織品、絕緣、化妝品、食品、五金行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品檢測，以及提供產(chǎn)品認證服務(wù)，同時也在拓寬檢測行業(yè)范圍，實驗室出具報告可蓋CNAS/CMA/CAL資質(zhì)章，報告真實有效。

檢測項目：

體積電阻率,單位長度電阻,抗拉強度和斷裂伸長率試驗,標(biāo)準(zhǔn)溫度電阻,電導(dǎo)率,電阻率,直流電阻比率,纏繞試驗,質(zhì)量電阻率,金屬絲外徑,金屬護套厚度,鎧裝金屬絲鍍層重量試驗,錫和銀鍍層連續(xù)性試驗,鎳鍍層連續(xù)性試驗,導(dǎo)電率,基體金屬雜質(zhì)含量鉀、鈉、鈣、鎂、鋁、鉻、鐵、鎳、銅、鋅,工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣含量,碳化硅單晶拋光片微管密度,碳化硅單晶晶型,表面金屬雜質(zhì)含量鉀、鈉、鈣、鎂、鋁、鉻、鐵、鎳、銅、鋅,電阻率電阻系數(shù),熒光粉測定發(fā)射峰值波長、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對亮度,交流電壓試驗,直流電壓試驗,金屬材料電阻率試驗,選區(qū)電子衍射,表面粗糙度,平整度,結(jié)晶質(zhì)量,方塊電阻,遷移率和載流子濃度,外延片發(fā)光波長,表面缺陷,外延層厚度,外延層摻雜濃度,碳、硫,鋰、鈹、硼、氟、鈉、鎂、鋁、鍺、硫、磷、氯、鉀、鈣、鈧、鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鎵、砷、硒、溴、銣、鍶、釔、鋯、鈮、鉬、釕、銠、鈀、銀、鎘、銦、錫、銻、碲、碘、銫、鋇、鑭、鈰、鐠、釹、釤、銪、釓、鋱、鏑、鈥、鉺、銩、鐿、镥、鉿、鉭、鎢、錸、鋨、銥、鉑、金、汞、鉈、鉛、鉍、釷、鈾

檢測報告作用：

1、項目招投標(biāo)：出具第三方CMA/CNAS資質(zhì)報告;

2、上線電商平臺入駐：質(zhì)檢報告各大電商平臺認可;

3、用作銷售報告：出具真實有效的檢測報告，讓消費者更放心;

4、論文及科研：提供專業(yè)的個性化檢測需求;

5、司法服務(wù)：提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù);

6、工業(yè)問題診斷：驗證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;

檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 20123-2006/ISO 15350:2000 鋼鐵 總碳硫含量的測定 高頻感應(yīng)爐燃燒后紅外吸收法常規(guī)方法

2、GB/T 1551-2009 硅單品電阻率測定方法

3、GB/T 14634.2-2010 熒光粉測定發(fā)射峰值波長、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對亮度

4、ASTM B 193-20 電工導(dǎo)體材料電阻率標(biāo)準(zhǔn)試驗方法 ASTM B193-20

5、GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法/

6、GB/T 12966:2008 鋁合金電導(dǎo)率渦流測試方法

7、GB/T 14141-2009 硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定 直排四探針法

8、GB/T 32651-2016 采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法

9、GB/T 14634.1-2010 熒光粉測定發(fā)射峰值波長、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對亮度

10、AS/NZS1660.1:1998 電纜、電線和導(dǎo)體試驗方法—導(dǎo)體和金屬

11、GB/T 5838.3-2015 熒光粉測定發(fā)射峰值波長、發(fā)光效能、光轉(zhuǎn)化效率、量子效率、色品坐標(biāo)、發(fā)射光譜、相對亮度

12、SJ 21535-2018 電力電子器件用碳化硅外延片規(guī)范 SJ21535-2018

13、GB/T 351-2019 金屬材料 電阻率測量方法

14、ASTMB193-16 電工導(dǎo)體材料電阻率標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

15、CSA22.2NO.0.3-09R2019 電線電纜試驗方法

16、GB/T 30854-2014 LED發(fā)光用氮化鎵基外延片 GB/T 30854-2014

17、AS/NZS 1660.1:1998 電纜、電線和導(dǎo)體試驗方法—導(dǎo)體和金屬 2

18、SJ 21535-2018 電力電子器件用碳化硅外延片規(guī)范 SJ 21535-2018

19、GB/T 24582-2009 表面金屬雜質(zhì)含量鉀、鈉、鈣、鎂、鋁、鉻、鐵、鎳、銅、鋅

20、SJ/T 11501-2015 碳化硅單晶晶型的測試方法

百檢檢測流程

1、咨詢工程師，提交檢測需求。

2、送樣/郵遞樣品。

3、免費初檢，進行報價。

4、簽訂合同和保密協(xié)議。

5、進行方案定制、實驗。

6、出具實驗結(jié)果和檢測報告。

檢測項目及檢測標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)信息就介紹到這里。百檢網(wǎng)第三方檢測機構(gòu)期待與您的合作，詳情請聯(lián)系百檢客服。