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檢測知識
硅外延片檢測項目有哪些?
日期:2023-02-22 10:07:07作者:百檢網(wǎng) 人氣:0

一份質(zhì)檢報告主要體現(xiàn)了產(chǎn)品的相關(guān)數(shù)值是否達到標(biāo)準,硅外延片檢測報告要測哪些項目?根據(jù)不同需求,硅外延片檢測項目也不同,有些可能需要做指定標(biāo)準中的全部檢測項目,有些用途則可能需要做其中的幾項。關(guān)于硅外延片檢測項目如下。

硅外延片檢測項目:

表面缺陷分析、背面邊緣異常黑斑原因分析、晶體缺陷、均勻性、縱向電阻率、翹曲度非接觸測試、電阻率、表面金屬、正面質(zhì)量、背面質(zhì)量、表面顆粒等。 實際檢測哪些項目需要根據(jù)您的產(chǎn)品及報告用途決定,針對不同產(chǎn)品,我們會安排對應(yīng)的工程師為您整理出相應(yīng)合適的檢測項目,滿足您的實際需求。

在大致了解硅外延片檢測項目后,大家可能會想問,如果要做這些項目需要多久才能出報告呢?百檢網(wǎng)第三方檢測機構(gòu)檢測報告辦理周期大致如下。

硅外延片檢測周期:

常規(guī)3-5個工作日,可加急,*快1.5個工作日(特殊樣品除外)