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檢測(cè)知識(shí)
YS T 585-2006 銅及銅合金板材超聲波探傷方法 標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容
日期:2023-01-04 14:22:33作者:百檢網(wǎng) 人氣:0

YST585-2006銅及銅合金板材超聲波探傷方法內(nèi)容是什么?百檢網(wǎng)檢測(cè)范圍廣泛,可根據(jù)客戶需求選擇合適的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目安排檢測(cè),全國(guó)近千家合作實(shí)驗(yàn)室,CMA/CNAS資質(zhì)齊全,可就近安排寄樣檢測(cè)。今天百檢網(wǎng)就給大家簡(jiǎn)單介紹一下YST585-2006銅及銅合金板材超聲波探傷方法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。

1 范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用A型超聲波脈沖反射式接觸法手工檢測(cè)銅及銅合金板材的探作方法。內(nèi)容包括原理、探傷人員資質(zhì)、探傷裝置的要求、探傷方法、缺陷的評(píng)定和分級(jí)、探傷報(bào)告等。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于厚度為6mm~70mm銅及銅合金板材的超聲波探傷,為銅板內(nèi)部及近表面金屬不連續(xù)的超聲波脈沖反射式檢測(cè)方法。其他厚度的銅板材,可參照采用。

2 規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 9445 無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證

GB/T 12604.1 無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)

GB/T 18694 無損檢測(cè) 超聲檢驗(yàn) 探頭及其聲場(chǎng)的表征

GB/T 18852 無損檢測(cè) 超聲檢驗(yàn) 測(cè)雖接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法

3 術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T 12604.1中的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

4 方法原理

A型脈沖反射式超聲波探傷儀產(chǎn)生高潁電脈沖經(jīng)過探頭(晶片)的電聲轉(zhuǎn)換傳人彈性介質(zhì)(工件)中進(jìn)行聲波的傳播,聲波遇到聲阻抗相異(如缺陷)界面時(shí),將發(fā)生聲波的反射。由探頭將聲能轉(zhuǎn)換成電脈沖顯示在示波屏上,超聲波反射法,就是根據(jù)工件中反射波的情況,來判定工件內(nèi)部的質(zhì)量。

5 一般要求

5.1 從事銅板超聲波探傷人員必須按GB/T 9445要求經(jīng)過培訓(xùn),應(yīng)取得國(guó)家相關(guān)授權(quán)部門頒發(fā)的超聲波探傷技術(shù)等級(jí)資格證書。取得探傷級(jí)以上含Ⅱ級(jí))技術(shù)等級(jí)資格證書者方可有資格簽發(fā)探傷報(bào)告。

5.2 超聲波探傷應(yīng)在銅板成品狀態(tài)下進(jìn)行。

5.3 探傷場(chǎng)地不能設(shè)在有強(qiáng)磁、震動(dòng)、高頻、電火花、高溫、潮濕、機(jī)械噪聲大的環(huán)境中。以免影響探傷的準(zhǔn)確性和探傷的穩(wěn)定性。

5.4 被探銅板的表面,應(yīng)當(dāng)清除有影響探傷的氧化皮、銹蝕、油污等物。

5.5 耦合劑的選用,不應(yīng)使人體、銅板表面質(zhì)量受到損害,一般選用機(jī)油等。

6 探傷裝置

6.1 探傷儀

6.1.1 探傷儀的技術(shù)指標(biāo)測(cè)試應(yīng)符合有關(guān)探傷技術(shù)條件的規(guī)定,探傷儀器應(yīng)定期進(jìn)行檢定。

6.1.2 儀器、探頭組合始波脈沖寬度的確定

先將探傷儀的測(cè)定范圍設(shè)置到50mm檔,然后將探頭置于聲程為15mm的φ4mm平底孔試塊上,

調(diào)整探傷儀,使φ4mm平底孔反射波高為熒光屏滿刻度的8%時(shí),讀出此時(shí)在時(shí)間軸上始波后沿高度達(dá)20%以上的寬度。對(duì)于釆用標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭,其始波脈沖寬度不應(yīng)大于10mm;標(biāo)稱頻率為1.25MHz~2.5MHz的探頭,其始波脈沖寬度不應(yīng)大于15mm。

6.2 探頭

6.2.1 探頭的性能測(cè)試方法應(yīng)符合GB/T 18694 和GB/T 18852 的有關(guān)規(guī)定。

6.2.2 探頭及頻率的選用見表1,探頭晶片直徑一般選用φ4mm~φ20mm,方晶片面積不小于190mm2,雙晶探頭晶片面積不小于150mm2。

6.2.3 雙晶直探頭的性能要求

用圖1試塊在各個(gè)階梯面進(jìn)行測(cè)試間波高度,繪出如圖2所示的特性曲線。

6.2.3.1 厚度3mm處和19mm處的回波高度與*大回波高度差應(yīng)在3dB~6dB范圍內(nèi)。

6.2.3.2 用直接接觸法的表面回波高度,必須比*人回波高度低40dB以上。

6.2.3.3 探頭對(duì)準(zhǔn)聲程15mm處φ4mm平底孔試塊,其回波高度與*大回波高度必須在10dB以上。探頭對(duì)準(zhǔn)聲程15mm處φ4mm平底孔試塊,與聲波分割面平行地移動(dòng)探頭,按6dB法測(cè)定波束寬度,其有效值必須大于15mm。

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