GB/T24196-2009金屬和合金的腐蝕電化學(xué)試驗(yàn)方法恒電位和動(dòng)電位*化測(cè)量導(dǎo)則內(nèi)容是什么?百檢網(wǎng)檢測(cè)范圍廣泛，可根據(jù)客戶需求選擇合適的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目安排檢測(cè)，全國近千家合作實(shí)驗(yàn)室，CMA/CNAS資質(zhì)齊全，可就近安排寄樣檢測(cè)。今天百檢網(wǎng)就給大家簡(jiǎn)單介紹一下GB/T24196-2009金屬和合金的腐蝕電化學(xué)試驗(yàn)方法恒電位和動(dòng)電位*化測(cè)量導(dǎo)則標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。

1.范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬和合金的腐蝕,實(shí)施恒電位和動(dòng)電位*化測(cè)量方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于表征陽*和陰*反應(yīng)的電化學(xué)動(dòng)力學(xué)特征,局部腐蝕開始和金屬再鈍化行為。

2.規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 10123 金屬和合金的腐蝕 基本術(shù)語和定義(GB/T 10123-2001,eqv ISO 8044:1999)

GB/T 15260 鎳基合金晶間腐蝕試驗(yàn)方法(GB/T 15260-1994,eqv ISO 9400:1990)

GB/T 16545 金屬和合金的腐蝕 腐蝕試樣上腐蝕產(chǎn)物的清除(GB/T 16545-1996,ISO 8407:1991,IDT)

GB/T 18590 金屬和合金的腐蝕 點(diǎn)蝕評(píng)定方法(GB/T 18590-2001,ISO 11463:1995,IDT)

ISO 11846 金屬與合金的腐蝕 溶解熱處理鋁合金的耐晶間腐蝕性的測(cè)定

3.原理

3.1 將金屬浸漬在溶液中,陽*反應(yīng)速度和陰*反應(yīng)速度會(huì)在開路電位處平衡(自腐蝕電位,Ecor)。若電*電位偏離開路電位值,測(cè)量的實(shí)際電流表示陽*反應(yīng)電流和陰*反應(yīng)電流之間的差值。如果電位偏移足夠大,靜電流基本上等于陽*或陰*反應(yīng)動(dòng)力學(xué)電流,這取決于分別施加的電位是否比開路電位值更正或更負(fù),如圖1所示,圖1a)在酸性溶液中金屬處于活化狀態(tài),或圖1b)在暴露于空氣的中性溶液中。

3.2 在某些金屬與環(huán)境相接觸的狀態(tài)中,金屬可能處于鈍化狀態(tài)(圖2)。如果存在某些侵入性陰離子,同時(shí)相對(duì)于開路電位施加正向電位(變?yōu)楦?至鈍化膜局部擊穿(如點(diǎn)蝕,縫隙腐蝕或晶間腐蝕),會(huì)導(dǎo)致電流隨之增加(圖2),該電流相對(duì)應(yīng)的電位可作為一種金屬對(duì)局部腐蝕阻力的衡量尺度。

3.3 若在局部腐蝕發(fā)生后施加反向電位(變?yōu)楦?fù)),則當(dāng)實(shí)際電流回到接近于鈍化電流值時(shí),與其相對(duì)應(yīng)的電位為再鈍化電位,該電位可用來表示金屬對(duì)局部腐蝕發(fā)展的阻力;電位越正,阻力越大。

3.4 根據(jù)試驗(yàn)的應(yīng)用和目的在一個(gè)所選擇的特殊電位上,電位的位移可以是階梯形的,并具有電位步長的數(shù)量和時(shí)間大小。這種類型的試驗(yàn)被稱為恒電位法。

3.5 若在掃描(偏移)速度的控制下以連續(xù)方式移動(dòng)電位,這種試驗(yàn)稱為動(dòng)電位法。

3.6 發(fā)生在表面的電化學(xué)動(dòng)力學(xué)過程可能依賴于時(shí)間,例如由于在表面形成薄膜,因此在恒電位試驗(yàn)或在動(dòng)電位試驗(yàn)的電位掃描速度中,電位保持在某一特殊電位值時(shí)的時(shí)間可能是臨界時(shí)間。例如,電位改變速度太快可能會(huì)導(dǎo)致對(duì)局部腐蝕的擊穿電位評(píng)估過高。因此,應(yīng)該仔細(xì)考慮*化數(shù)據(jù)的解釋,特別是應(yīng)用于服役條件時(shí)。

3.7 測(cè)量的電*電位可能會(huì)受到溶液歐姆降的影響。對(duì)電導(dǎo)率低的溶液應(yīng)該進(jìn)行修正。

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