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檢測(cè)知識(shí)
電子產(chǎn)品檢測(cè)GB/T2423.21基本環(huán)境試驗(yàn)
日期:2022-09-19 10:28:31作者:百檢 人氣:0

項(xiàng)目介紹

本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在高溫/低溫和低氣壓氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于溫度、氣壓和曝露持續(xù)時(shí)間。

溫度/高空(低壓)復(fù)合試驗(yàn)(低氣壓試驗(yàn)、快速減壓試驗(yàn)、低壓試驗(yàn)、高度試驗(yàn)、高空試驗(yàn)、快速氣壓變化)主要目的為模擬無壓力控制航空運(yùn)輸環(huán)境、航空電子、產(chǎn)品有高壓、馬達(dá)或氣密性考量以及產(chǎn)品使用安裝在高緯度國(guó)家地區(qū)等環(huán)境。

溫度低氣壓試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室),然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值,并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。試驗(yàn)適用于在飛機(jī)貨艙中空運(yùn)的產(chǎn)品,在高原上使用的產(chǎn)品和空運(yùn)產(chǎn)品在飛機(jī)受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)產(chǎn)品在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對(duì)產(chǎn)品性能的影響。在試驗(yàn)應(yīng)用上通常區(qū)分為運(yùn)輸試驗(yàn)與操作環(huán)境試驗(yàn),運(yùn)輸環(huán)境通常以低溫伴隨減氣壓作為驗(yàn)證條件,操作環(huán)境則以高/低溫伴隨減氣壓作為驗(yàn)證條件。

溫度/氣壓常見效應(yīng):氣壓減小空氣或絕緣材料的絕緣強(qiáng)度降低,產(chǎn)生放電、介質(zhì)損耗增加、電離、局部過熱造成材料變形或電氣失效、液體、氣體外泄, 氣密失效、密封容器變形、破裂、馬達(dá)、引擎運(yùn)轉(zhuǎn)不穩(wěn)定等功能性或永久性損傷。


業(yè)務(wù)范圍

1. 計(jì)算機(jī)類:電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等

2.電子通信類:手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等。

3.電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;

4.其他:包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。


測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.21 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法

GJB150.2軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低氣壓(高度)試驗(yàn)

MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》

GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》

GJB367A《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》

GJB360A 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105 低氣壓試驗(yàn)

MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

GB/T13543《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》

RTCA/DO-160E 機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法