可靠性試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)匯總一、能實(shí)施的環(huán)境可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目
【可靠性試驗(yàn)】：可靠性實(shí)驗(yàn)室(可靠性試驗(yàn)室)
老練試驗(yàn)(老煉試驗(yàn))、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)
可靠性鑒定試驗(yàn)(特定環(huán)境下的產(chǎn)品平均無(wú)故障時(shí)間MTBF)、壽命試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)HALT、高加速環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)HASS
綜合應(yīng)力試驗(yàn)：兩綜合試驗(yàn)(振動(dòng)－溫度、溫度－濕度、振動(dòng)-濕度)、三綜合試驗(yàn)(振動(dòng)－溫度－濕度)、四綜合試驗(yàn)(低氣壓－振動(dòng)－溫度－濕度、噪聲－振動(dòng)－溫度－濕度)
可靠性試驗(yàn)策劃、大綱制定、試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)
系統(tǒng)可靠性分析與試驗(yàn)結(jié)果綜合評(píng)估
產(chǎn)品可靠性故障分析與診斷
產(chǎn)品貯存可靠性分析
【包裝運(yùn)輸試驗(yàn)】
包裝試驗(yàn)(GB/T4857，GB6543，GB6544，QB/T1649)：碰撞、跌落、傾斜、翻倒等。
1.氣候環(huán)境試驗(yàn)(GB2423，GJB150，GB4208，RTCA/Do160E,Mil-Std-810F)
1.1溫度試驗(yàn)：高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化、溫度沖擊(熱沖擊、溫度驟變)、溫度循環(huán)(溫度漸變)試驗(yàn)等；
1.2濕度試驗(yàn)：防潮試驗(yàn)(濕度試驗(yàn)、恒定濕熱、交變濕熱)；
1.3腐蝕試驗(yàn)：鹽霧試驗(yàn)：中性鹽霧試驗(yàn)NSS/銅鹽加速乙酸鹽霧試驗(yàn)CASS/銅鹽加速醋酸鹽霧試驗(yàn)CASS試驗(yàn)/銅加速醋酸鹽霧試驗(yàn)CASS/酸性鹽霧試驗(yàn)/醋酸鹽霧試驗(yàn)ASS、霉菌試驗(yàn)(防霉試驗(yàn)、長(zhǎng)霉試驗(yàn))、大氣腐蝕試驗(yàn)(氣體腐蝕試驗(yàn))：二氧化硫氣體腐蝕試驗(yàn)(SO2)、硫化氫氣體腐蝕試驗(yàn)(H2S)、絲狀腐蝕試驗(yàn)/循環(huán)腐蝕試驗(yàn)；
1.4其它：防塵防水(IP防護(hù)等級(jí)、IP等級(jí)、IP代碼、外殼防護(hù)等級(jí))、沙塵試驗(yàn)(揚(yáng)塵試驗(yàn)、防塵試驗(yàn))、浸水試驗(yàn)(防水試驗(yàn))、淋雨試驗(yàn)、砂塵試驗(yàn)、凍雨試驗(yàn)、老化試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)(低壓試驗(yàn)、高度試驗(yàn)、高空試驗(yàn)、快速減壓試驗(yàn)、快速氣壓變化)、爆炸性減壓(快速減壓、迅速減壓)、高氣壓試驗(yàn)(過(guò)壓試驗(yàn)、正壓試驗(yàn))、太陽(yáng)輻照(太陽(yáng)輻射、陽(yáng)光輻射、日照試驗(yàn)、日照輻射、人工加速光老化試驗(yàn)、氙燈光老化試驗(yàn))、風(fēng)壓試驗(yàn)(風(fēng)載荷)、熱真空試驗(yàn)、爆炸性大氣、噪聲試驗(yàn)等。
2.機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)(動(dòng)力學(xué)環(huán)境試驗(yàn))(GB2423，GJB150，RTCA/Do160E,Mil-Std-810F)
2.1振動(dòng)試驗(yàn)：正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)、復(fù)合振動(dòng)、掃描振動(dòng)、定頻振動(dòng)、飛機(jī)炮振試驗(yàn)(炮擊振動(dòng)試驗(yàn))；
2.2其它：沖擊試驗(yàn)(高g值沖擊如30000g、艦船沖擊試驗(yàn))、地震試驗(yàn)(地震模擬試驗(yàn))、碰撞試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、包裝運(yùn)輸、拉伸試驗(yàn)、傾斜搖擺、離心試驗(yàn)(恒定加速度試驗(yàn))、顛振試驗(yàn)等。
3.綜合環(huán)境試驗(yàn)(GB2423，GJB150,Mil-Std-810F)
3.1溫度高度試驗(yàn)、溫度濕度高度試驗(yàn)、濕度高度試驗(yàn)、低溫低氣壓試驗(yàn)；
3.2溫度濕度試驗(yàn)、溫度濕度振動(dòng)試驗(yàn)、溫度振動(dòng)試驗(yàn)；
3.3振動(dòng)噪聲試驗(yàn)(聲振聯(lián)合試驗(yàn)、振聲試驗(yàn))
網(wǎng)址：http://www.test114.com.cn(可靠性檢測(cè)網(wǎng))實(shí)驗(yàn)室熱點(diǎn)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目：高低溫，IP防護(hù)等級(jí)，振動(dòng)沖擊，軍民品電磁兼容,環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)
二、各試驗(yàn)項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)及*大試驗(yàn)?zāi)芰?br/>1低氣壓試驗(yàn)(低氣壓實(shí)驗(yàn))(*大體積：150立方，12*3.5*3.5m)
GB/T2423.21-91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法
GJB150.2-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓(高度)試驗(yàn)
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法105低氣壓試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
2低溫試驗(yàn)(*大體積：80立方，14*2.5*2.5m)
GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.3-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫試驗(yàn)》
GJB4.4-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫貯存試驗(yàn)》
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.27低溫試驗(yàn)
GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.4低溫負(fù)荷試驗(yàn)
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.5低溫貯存試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
3高溫試驗(yàn)(*大體積：80立方，14*2.5*2.5m)
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)高溫試驗(yàn)》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法108高溫壽命試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.28高溫試驗(yàn)
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.1高溫負(fù)荷試驗(yàn)
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.2高溫貯存試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
4濕熱試驗(yàn)(*大體積：80立方，14*2.5*2.5m)
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.9-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.5-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
GJB4.6-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法103穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法106耐濕試驗(yàn)
GJB367A－2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.29濕熱
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》
GB/T2423.4-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》
GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.3恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
聯(lián)系人電話：13691093503座機(jī)：010-63469388
郵箱：test0718@126.com
5沖擊試驗(yàn)(*大加速度：30000g)
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.18-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.8-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)顛震試驗(yàn)》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法213沖擊(規(guī)定脈沖)試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.39沖擊和4.7.42顛震
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊》
GB/T2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞》
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》5.2碰撞試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
6碰撞試驗(yàn)
GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
GJB4.8-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)顛振試驗(yàn)
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
7運(yùn)輸試驗(yàn)
QJ/T815.2-1994航天工業(yè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品公路運(yùn)輸加速模擬試驗(yàn)方法
8恒定加速度試驗(yàn)(離心試驗(yàn))
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GB/T2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
GJB150.15-1986軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法加速度試驗(yàn)
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法212穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
9跌落試驗(yàn)
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》5.3自由跌落試驗(yàn)
GB/T2423.8-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落》方法一：自由跌落
10振動(dòng)試驗(yàn)(*大推力：30t；*大承載：20t)
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.16-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法214隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.38振動(dòng)
GJB4.7-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)振動(dòng)試驗(yàn)》
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.10-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)(正弦)》
GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法：試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-一般要求
GB/T2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性
GB/T2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--中再現(xiàn)性
GB/T2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--低再現(xiàn)性
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》5.1掃頻振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
11溫度沖擊
GJB150.5-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GB/T2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
12溫度變化
SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.6溫度變化試驗(yàn)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化GJB150.5-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107溫度沖擊試驗(yàn)
GJB1032-90電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
13鹽霧試驗(yàn)(*大2立方)
GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.11-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.11-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)》
GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
GB/T2423.17-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》
GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變(氯化鈉溶液)
GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法101鹽霧試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
14霉菌試驗(yàn)(長(zhǎng)霉試驗(yàn))
GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
GJB4.10-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)
GJB150.10-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法霉菌試驗(yàn)
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
15溫度/振動(dòng)綜合試驗(yàn)
GB/T2423.35-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
GB/T2423.36-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
16溫度/低氣壓(高度)綜合試驗(yàn)(*大體積：26立方，285021904000)
GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GJB150.6-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度－高度試驗(yàn)
17低溫/低氣壓(*大體積：26立方，285021904000)
GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
18高溫高氣壓(*大體積：26立方，285021904000)
GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
19溫度/濕度
GB/T242320可靠性試驗(yàn)
GJB899-90《可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)》
MIL-STD-781D-86
裝電字[2002]110號(hào)《海軍電子裝備可靠性鑒定試驗(yàn)實(shí)施方法》
GB/T12165-1998《盒式磁帶錄音機(jī)可靠性要求和試驗(yàn)方法》
GJB1407-92可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)
GB5080.7-1986設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案
21環(huán)境應(yīng)力篩選
GJB899-90《可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)》
MIL-STD-2164-85
裝電字[2002]110號(hào)《海軍電子裝備可靠性鑒定試驗(yàn)實(shí)施方法》
GB/T12165-1998《盒式磁帶錄音機(jī)可靠性要求和試驗(yàn)方法》
22二氧化硫
GB/T2423
23硫化氫
GB/T2423
24高壓蒸煮
GB/T2423
25太陽(yáng)輻射(*大體積：)
GJB150-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GB/T2423-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T16422.2-99《塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第二部分：氙弧燈》
GB/T14522-93《機(jī)械工業(yè)產(chǎn)品用塑料、涂料、橡膠材料人工氣候加速試驗(yàn)方法》
ISO4892-1994《塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第二部分:氙弧燈
26防塵防水(外殼防護(hù)等級(jí)、IP等級(jí)、IP代碼、IP防護(hù)等級(jí))
GB4208-93《外殼防護(hù)等級(jí)(IP標(biāo)志)》
IEC529-1989《外殼防護(hù)等級(jí)(IP標(biāo)志)》
27砂塵試驗(yàn)(沙塵施壓)(*大尺寸：)
GB/T2423
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GB4208-93《外殼防護(hù)等級(jí)(IP標(biāo)志)》
IEC529-1989《外殼防護(hù)等級(jí)(IP標(biāo)志)》
RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法
28防水試驗(yàn)、浸水試驗(yàn)
GB/T2423
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
GB4208-93《外殼防護(hù)等級(jí)(IP標(biāo)志)